wafer
121wafer gradient — plokštelės parametrų gradientas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer gradient vok. Wafergradient, m rus. градиент параметров пластины, m pranc. gradient de la tranche, m …
122wafer handler — plokštelių manipuliatorius statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer handler vok. Waferhandhabevorrichtung, f rus. манипулятор для пластин, m; погрузочно разгрузочное устройство для пластин, n pranc. chargeur déchargeur des… …
123wafer handling module — plokštelių perkėlimo modulis statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer handling module vok. Waferhandhabungsmodul, m rus. транспортный модуль для пластин, m pranc. module de transfert des tranches, m …
124wafer identification — plokštelių atpažinimas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer identification vok. Waferidentifikation, f rus. идентификация пластин, f pranc. identification des tranches, f …
125wafer complexity — plokštelės sudėtingumas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer complexity vok. Waferkomplexität, f rus. сложность пластины, f pranc. complexité de tranche, f …
126wafer gaging equipment — plokštelių tikrinimo ir rūšiavimo įrenginys statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer gaging equipment vok. Waferkontroll und Sortieranlage, f rus. установка для контроля и сортировки пластин, f pranc. équipement pour le… …
127wafer inspector — plokštelių regimojo tikrinimo įtaisas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspector vok. Waferkontrollgerät, n rus. прибор для визуального контроля пластин, m pranc. dispositif pour inspection des tranches, m …
128wafer inspection microscope — plokštelių apžiūros mikroskopas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer inspection microscope vok. Waferkontrollmikroskop, n rus. микроскоп для визуального контроля пластин, m pranc. microscope pour inspection des tranches, m …
